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Advantest Q8384 光谱分析仪
Advantest Q8384 光谱分析仪可以测量和评估超高速光DWDM传输系统和光学元件在高波长分辨率和精度高。新的gao端光学频谱分析仪采用新的四通单色器系统，提供高波长分辨率和宽广的动态范围。
严格的的波长测量要求在DWDM光通信光源。Q8384光学频谱分析仪评估这些规范，
增强的分辨率带宽，波长精度。最好在世界Q8384达到10点的波长分辨率，在1550nm波段的波长准确度达到20点。
如此高的性能使得它可以为Q8384测量激光二极管的振荡波长特性的准确。
DWDM光通信系统中也包含波长分割复用的
信道间隔为尽可能接近的时间间隔为50千兆赫（0.4纳米）。
在这样的环境中具有优异的动态范围的光学频谱分析仪是必需的分开的光信号，并测量光放大器的噪声系数（NF）。
0.1 nm时为50分贝至60分贝0.2纳米宽的动态范围，因此，充分满足这些要求。
配备了自动光放大器NF测量和算术设施，允许用户在一个简单的方式进行测量。
任选具有一个内置的参照波长的光源和一个EE-LED（边缘发射LED）。
如果Q8384与参考光源，仪器校准保证提供20日下午在1550nm波段的波长精度。使用的EE-LED的宽带光源，使用户能够方便地测量和评价其传输和窄带光学滤波器的损耗特性。通过就业新开发的单色器系统，实现了波长分辨率带宽作为highas晚上10点。这使得它可以测量和评价其边带的光信号的强度调制以10 Gbps，与常规的频谱分析仪以前不可能的任务。
可以测量的精度为±20时的波长在1530至1570nm的C波段的波长范围内，并在±40点范围内的L波段为一千五百七到1610 nm的范围内后，与内置的校准校准光源（选件25）。使得按钮的噪声系数测量精度高，可以通过性能增强的动态范围，偏振相关性，电平精度，线性度，波长分辨率设置精度等，并应用曲线拟合等功能。可以准确地确定DWDM信号的时间间隔为50GHz（0.4纳米）或更窄的复ASE水平，它不仅提供能够执行精确的噪声系数测量，而且还能够显示多个测量结果的清单在同一时间。可以显示最大为256个峰值波长的WDM信号的功率电平。它可以显示从ITU-T的信道间隔，或从一个参考信号，以及在绝对值偏差的波长和功率电平。可以具有不同的设置条件在两个窗口中显示两个组测量数据。这些窗口可擦写的使用交替扫描功能。通过此功能，用户可以进行详细的特定波长带中的信号的测量，同时监测在整个波长区域的WDM系统。支持远距离传输回路测试，使用一个外部同步扫描功能。它可以测量非常微弱的信号，令人满意的，因为它具有高灵敏度的约-65 dBm。此外，脉冲扫描功能，使得它可以测量所测得的光的峰值。即使脉冲光可以测量不缺少任何部分。支持级联显示多达32个迹线，它允许同时显示多通道的移动设备的特性，如从AWG的。允许DWDM系统监控。这是可能的连续监测，峰值波长，每个通道的电平，信噪比波动是否是在其各自的公差。另外，也可以同时显示当前值相对于初始值，第一通道的值，参考值，以及显示的绝对值。可以同时显示的波形的最大值，最小值，电流值，每次测量的重复扫描。波动范围的显示，使用户可以一看就知道对温度和极化变化的器件特性的变化。Q8384可以将数据存储在文本和位图格式，内置标准的软盘驱动器。
