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关键词：BX-T929一体化大豆表型检测系统
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■产品用途：
BX-T929一体化大豆表型检测系统可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标，这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。
■仪器特点：
1、一体式连接：压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响。
2、拍照识别自动去杂质：成像清晰，数粒准确。
3、数粒速度快：1000粒以下种子识别只需1秒。
4、数粒范围广：种子范围能测10粒以上，8000粒以下的种子。
5、自动换成千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，可自动换算出千粒重。
6、高度不固定：不限制用户拍照的高度，操作简单，使用方便。
7、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。
8、智能修正：触摸屏幕可进行修正，使结果更精准，可达100%。
9、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报表。
10、数据导出和共享：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。
11、重复性数值误差较小：手机和作物之间固定距离设置，重复性拍摄夹角角度无差异。
■技术参数：
适用范围：
1、大豆夹角适用于花芽分化期、开花结荚期、鼓粒期、成熟期进行测量；
2、千粒重测量和种子计数系统几乎可以识别计数所有常见种子，包括玉米，水稻，小麦，大豆，油菜籽，花生，芝麻，绿豆，红豆，草籽等。
测量范围和误差：
大豆夹角测量范围0-180°，误差±5%；
大豆茎粗测量范围0-5.2cm，误差±1%；
千粒重测量误差：误差±2‰，修正后可达100%；
